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纳米AIP／SiO2中激光超声信号功率谱研究
耿森林;尚志远 单　　位： 陕西师范大学应用声学研究所，陕西西安710062  陕西师范大学学报:自然科学版.2001,029(003).-48-49,52  
关键词 纳米AIP/SiO2;纳米粒子;激光超声;功率谱;平均;纳米材料;压电薄膜换能器摘　　要对压电薄膜换能器检测的纳米AIP／SiO2中激光超声信号的功率谱进行了研究。结果表明，当激光功率密度约等于9W/cm^2时，纳米AIP／SiO2的声信号功率谱主要在0－22MHz范围内，而常规玻璃（SiO2)在0－10MHz之间。相同激光能量照射下，前者声信号平均功率比后者大。




















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